

Az InView makroszkopikus mérőrendszer széles részecskeméret-tartományhoz és különböző tárgytávolságokhoz. Betekintőablakra karimázva vagy szállítószalag fölé szerelve használható. Az objektívtől függő 50–50 000 µm-es tartományban különböző részecskeészlelési feladatokat támogat; ATEX kivitel külön választható.
Granulátorok, reaktorok és csúszdák betekintőablakához, illetve szállítószalag fölé szerelhető. A LED-gyűrű mellett további LED-panelek segíthetik a különböző szögű és távolságú megvilágítást. Az ablak szennyeződésének csökkentésére opcionális, karimára szerelt öblítőegység használható.
| Jellemző | Adat |
|---|---|
| Részecskeméret-tartomány | 50–50 000 µm |
| Látómező átlója | egyedileg kialakítható |
| Kamera | 5,1 MP, GigE |
| Ház | 209 × 75 mm |
| Védelem | IP52 |
Ex-situ használat; környezeti hőmérséklet −10–50 °C, környezeti nyomás.
Az anyag összetételét, a mérési célt, a várható mérettartományt és a beépítési helyet együtt egyeztetjük. A megfelelő kivitelt, a tisztítási feltételeket és az adatkapcsolatokat a konkrét folyamathoz választjuk ki.
Részletes műszaki adatok és kivitelek. PDF, angol.
Adja meg az anyagot, az üzemi feltételeket és az elvárt mérési eredményt. Segítünk a megfelelő rendszer összeállításában.